Browse Standards
1435+ standards in database
1435 result(s) found
半导体器件 第16-2部分：微波集成电路 预分频器
Semiconductor devices—Part 16-2: Microwave integrated circuits—Frequency prescalers
电子设备用电位器 第5部分:分规范 单圈旋转低功率线绕和非线绕电位器
Potentiometers for use in electronic equipment—Part 5: Sectional specification—Single-turn rotary low-power wirewound and non-wirewound potentiometers
半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）
Semiconductor devices—Mechanical and climatic test methods—Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing—Human body model（HBM）
半导体器件 第5-6部分：光电子器件 发光二极管
Semiconductor devices—Part 5-6: Optoelectronic devices—Light emitting diodes
晶体盒总规范
Generic specification for enclosures for crystal units
石英晶体元件参数的测量 第6部分：激励电平相关性(DLD)的测量
Measurement of quartz crystal unit parameters—Part 6: Measurement of drive level dependence(DLD)
声表面波谐振器 第2部分：使用指南
Surface acoustic wave (SAW) resonators—Part 2: Guide to the use
声表面波谐振器 第1部分：总规范
Surface acoustic wave (SAW) resonators—Part 1:Generic specification
有质量评定的压电滤波器 第4-1部分：空白详细规范 能力批准
Piezoelectric filters of assessed quality—Part 4-1: Blank detail specification—Capability approval
有质量评定的压电滤波器 第4部分：分规范 能力批准
Piezoelectric filters of assessed quality—Part 4: Sectional specification—Capability approval
集成电路 电磁抗扰度测量 第8部分：辐射抗扰度测量 IC带状线法
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 8: Measurement of radiated immunity—IC stripline method
集成电路 电磁抗扰度测量 第1部分：通用条件和定义
Integrated circuits—Measurement of electromagnetic immunity—Part 1: General conditions and definitions
元器件位移损伤试验方法
Displacement damage test method for components
半导体集成电路 视频编解码电路测试方法
Semiconductor integrated circuits—Measuring methods of video encoder and decoder circuits
有质量评定的声表面波（SAW）和体声波（BAW）双工器 第2部分：使用指南
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave (BAW) duplexers of assessed quality—Part 2:Guidelines for the use
有质量评定的声表面波（SAW）和体声波（BAW）双工器 第1部分 ：总规范
Surface acoustic wave (SAW) and bulk acoustic wave(BAW) duplexers of assessed quality—Part 1:Generic specification
纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜的光学可靠性测定
Nanotechnology—Nano-enabled optoelectrical display—Optical reliability assessment for quantum dot enabled light conversion film
纳米技术 纳米光电显示 量子点光转换膜光学性能测试方法
Nanotechnology—Nano-enabled optoelectrical display— Measurement of optical performance for quantum dot enabled light conversion film
集成电路 脉冲抗扰度测量 第3部分：非同步瞬态注入法
Integrated circuits—Measurement of impulse immunity—Part 3: Non-synchronous transient injection method
半导体器件 集成电路 第20部分：膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第一篇：内部目检要求
Semiconductor devices—Integrated circuits—Part 20: Generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits—Section 1: Requirements for internal visual examination